- Locality
- Barcelona (Barcelona)
SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA
Equipos: dos microscopios electrónicos de barrido, uno de Emisión de Campo (FESEM) HITACHI SU8600, y otro de presión variable (VPSEM), HITACHI S-3500N. El SU8600, está equipado con los siguientes detectores: 2 de electrones secundarios, dos de retrodispersados y dos de rayos X por dispersión de energías (EDS, BRUKER QUANTAX XFlash 7) para la realización de microanálisis. Un detector STEM para campo claro y campo oscuro. El S-3500N dispone de un detector de secundarios, uno de retrodispersados, de un espectrómetro EDS (BRUKER QUANTAX 200 y detector XFlash 6/30) y de un crio-SEM (QUORUM PP3000T) para el estudio de muestras crio-fijadas.
Preparación de muestras: secado por punto crítico (LEICA EM CPD300), metalización por sputtering con cromo, iridio u oro y evaporación de carbón (QUORUM Q150T Plus).
8 Microscopios Ópticos (OLYMPUS- BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la mayoría equipados con epifluorescencia.
- Caracterización morfológica y análisis de organismos marinos y terrestres: Microscopía Electrónica de barrido (SEM) y microanálisis (EDS)
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía Electrónica de barrido (SEM): Presión variable (Low vacuum LV)
- Preparación de muestras
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Tratamiento muestra: Metalización (Sputtering)
- Tratamiento muestra: Secado